系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其*世界的光子晶體制造技術開發(fā)的產(chǎn)品，的測量技術，高速而又的測量能力使其成為不可多得的光學測量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量，全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的機器，*適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數(shù)據(jù)。

WPA-200

主要特點:

• 采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測量，測量范圍廣。

• 具有多種分析功能和測量結果的比較。

• 維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。

• 光學零件（鏡片、薄膜、導光板）

  · 透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

  · 有機材料（球晶、FishEve）
  

  
  技術參數(shù)：
  

  項次	項目	具體參數(shù)
  1	輸出項目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】
  2	測量波長	520nm、543nm、575nm
  3	雙折射測量范圍	0-3500nm
  4	測量*小分辨率	0.001nm
  5	測量重復精度	<1nm（西格瑪）
  6	視野尺寸	218x290mm-360×480mm（標準）
  7	選配鏡頭視野	無選配
  8	選配功能	實時解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實現(xiàn)外部控制，CD模式

  
  

  
  

  測量案例：