飛納掃描透射電子顯微鏡 Pharos-STEM

價格
電議

型號
Phenom Pharos-STEM

品牌
Phenom

所在地
上海市 閔行區(qū)

更新時間
2024-03-07 11:45:59

瀏覽次數(shù)

    Phenom Pharos 臺式場發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和*的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶, FEG 場發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內都提供了高分辨率。


    Phenom Pharos STEM 臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,配備了 STEM 樣品杯,從另一個維度提高了其成像能力和應用的多樣性。


    飛納掃描透射電子顯微鏡 Pharos-STEM


    作為全球*臺式場發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡,在較低的加速電壓下,減少了電子束對樣品的損傷,顯著提高了圖像的襯度。在臺式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像,且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領域的研究提供了高效、全面的表征方式。


    飛納掃描透射電子顯微鏡 Pharos-STEM


    BF 像:主要是樣品正下方同軸的探測器接收透射電子和部分散射電子。影響明場像襯度(Contrast)的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚,原子序數(shù)(Z)越大,穿透樣品的電子越少,圖像就越暗,因此 BF 像對輕元素(Z 較?。┍容^敏感。

    DF 像:主要是樣品下方非同軸位置的探測器接收散射電子信號。

    HAADF 像:主要是接收高角度的非相干散射電子信號。原子序數(shù)(Z)越大,散射角也越大,原子核對入射電子的散射作用越強,圖像上更亮。因此又被稱為 Z 襯度像。

    三種成像模式各有特點,具有不同的成像優(yōu)勢,可以根據(jù)樣品情況搭配使用,成像結果進行互相驗證。


    飛納掃描透射電子顯微鏡 Pharos-STEM


    煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像


    對比掃描電鏡的背散射電子圖像(BSE),桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素(Z 較?。?,輕元素散射作用較弱,因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測細節(jié)。


    而桿狀煙草花葉病毒周圍較厚的脂質球,電子較難穿透,BF 像上相對較暗。在 DF 模式下,密度較大的脂質球表現(xiàn)出較強的衍射,因此在 DF 像上相對較亮。

    規(guī)格參數(shù):


    • 系統(tǒng)兼容:Phenom Pharos G2 臺式場發(fā)射掃描電鏡

    • 樣品兼容:? 3mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)

    • 成像時間:< 40 s*

    • 成像模式:BF、DF、HAADF、 自定義**

    • 成像工作流程:固定的 WD,設置*的探測器 ,完全集成的 UI

    • 真空度:0.1, 10 & 60 Pa

    • 分辨率:優(yōu)于 1 nm


    * 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時間
    ** STEM 具有 11 分割探測器,用戶可以對其進行自定義選擇


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