日立TM4000Ⅱ掃描電鏡

價格
電議

型號
日立TM4000Ⅱ

品牌
日本日立

所在地
暫無

更新時間
2024-10-21 10:00:03

瀏覽次數(shù)

    日立TM4000Ⅱ掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 TM4000Ⅱ優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納*樣品直徑80mm,厚度50mm。


    產品介紹

    日立TM4000Ⅱ掃描電鏡的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 TM4000Ⅱ優(yōu)化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納*樣品直徑80mm,厚度50mm。
      TM4000PlusⅡ是在TM4000Ⅱ基礎上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD,該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質量。TM4000PlusⅡ可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示,獲得*多的樣品信息。TM4000PlusⅡ可以選配Multi Zigzag功能,可實現(xiàn)大范圍自動連續(xù)拍照和自動拼圖功能。

    主要參數(shù):

    1. 觀察條件:5kV/10kV/15kV/20kV(均四檔可調)、EDX
    2. 放大倍率:10×~100000×
    3. 觀察模式:導體、標準模式,消除電荷模式
    4. 探測器:4分割背散射探測器、低真空二次電子探測器(TM4000Plus)

    應用領域:生命科學、材料科學、化學、電子制造、食品工業(yè)


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