EDX-9000A XRF Spectrometer 能量色散X熒光光...

價(jià)格
電議

型號(hào)
EDX-9000A

品牌
蘇州英飛思

所在地
暫無

更新時(shí)間
2024-09-25 11:38:32

瀏覽次數(shù)

    合金分析是鑒定樣品化學(xué)成分的過程。使用X射線熒光(XRF光譜儀,不僅能快速確定合金牌號(hào)PMIPositive material identification),而且能準(zhǔn)確得到整個(gè)合金材料的元素組成。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業(yè),從航空航天測(cè)試,原材料分析,質(zhì)量控制,冶煉,金屬加工,焊接,廢料回收和快速分類篩檢等領(lǐng)域


    Simply the Best

    >一臺(tái)無需氬氣和氦氣消耗的高性能合金元素分析光譜儀XRF Analyzer

    >媲美直讀光譜儀的檢測(cè)性能,完全的無損分析(無需破壞樣品)

    >真空測(cè)試環(huán)境提供*輕元素檢測(cè)效果(Na,Mg,Al,Si,P

    >高分辨SDD檢測(cè)器一次測(cè)試可覆蓋多達(dá)40種元素

    >無需每天重復(fù),快速分析,簡(jiǎn)單易用

    >多組合濾光片系統(tǒng),有效提高微量元素檢出限

    >堅(jiān)固耐用,適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境

    >極高的

    EDX9000A結(jié)合了*的樣品激發(fā)和信號(hào)檢測(cè)技術(shù),使得它的分析性能可以與實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果相媲美。通過配備不同濾光片和光路準(zhǔn)直器,高功率X射線管,以及美國AmptekSDD硅漂移檢測(cè)器,EDX9000A實(shí)現(xiàn)了*化的硬件組合。

    選擇金屬合金分析儀時(shí),客戶通常會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試準(zhǔn)確性,分析速度和設(shè)備耐用性,而EDX9000A是對(duì)上述三點(diǎn)指標(biāo)的*體現(xiàn)。同時(shí),該光譜儀能同時(shí)對(duì)多種不同類型的合金進(jìn)行快速定性定量分析,包括:

    鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼 貴金屬

    鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫

    EDX9000A操作簡(jiǎn)單,分析性能*,還可拓展到以下應(yīng)用

    >涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質(zhì)等

    >電鍍液元素分析

    >催化劑貴金屬元素分析

     

     

    產(chǎn)品特點(diǎn)

    作為一款*為合金元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀,EDX-9000A兼顧了耐用性,易于操作和高。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有

    ?---全程無損分析,一到三分鐘即可出結(jié)果(可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果)

    ?更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng),并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾,把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

    ?更穩(wěn)---使用*的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性,該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率CPS)。的多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)過100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證*的光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV,以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺(tái)式儀器相比,EDX9000A光譜儀可以全功率運(yùn)行,因此實(shí)現(xiàn)了更*的測(cè)試表現(xiàn)

    ?無需消耗昂貴的氬氣或者氦氣,極大的降低了儀器的使用和維護(hù)成本

    ?無需或者很少的樣品制備,通常簡(jiǎn)單的拋光樣品表面后即可上機(jī)測(cè)試

    ?不需要每天儀器,開機(jī)即可檢測(cè),大大提高生產(chǎn)效率,并降低了對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴

    ?多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng),并可通過軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

    ?特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測(cè)試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

    ?友好的用戶界面,可定制的分析報(bào)告,可一鍵打印測(cè)試報(bào)告,包括分析結(jié)果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像

    ?八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換,亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差

    ?高清內(nèi)置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

     

    合金元素檢測(cè)*EDX9000A

    >儀器參數(shù)

    儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm

    大樣品腔:460mm*310mm*95mm

    半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×75mm 

    儀器重量: 45Kg

    元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

    可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

    探測(cè)器:AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測(cè)器

    多道分析器: 4096DPP analyzer 分析器

    X光管:50W高功率鈹窗光管

    高壓發(fā)生裝置:電壓*輸出50kV,自帶電壓過載保護(hù)

    電壓:220ACV 50/60HZ

    環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C

     

    儀器配置

    >標(biāo)準(zhǔn)配置

    >可選配置

    Ag初始化標(biāo)樣

    交流凈化穩(wěn)壓電源

    真空泵

    合金標(biāo)樣

    樣品杯 


    USB數(shù)據(jù)線


    電源線


    測(cè)試薄膜


    儀器出廠和報(bào)告


    保修卡



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