光譜鍍層測厚儀

價格
¥13.00

型號
thick800a

品牌
天瑞儀器

所在地
暫無

更新時間
2024-10-30 08:42:42

瀏覽次數(shù)

    鍍層測厚儀thick00a是江蘇天瑞儀器有限公司開發(fā)生產(chǎn)的一種用于鍍鎳設(shè)備的x光鍍層測試儀..
    天瑞儀器有限公司生產(chǎn)的鍍鎳設(shè)備x光鍍層測試儀適用于電鍍檢驗行業(yè)的上述五項要求:
    (1)可以準確分析鍍膜厚度的檢測和電鍍液的分析;
    (2)可快速檢測RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質(zhì)檢測和在線水質(zhì)監(jiān)測,檢測環(huán)境中重金屬是否標。
    同時,它具有以下特點。
    光譜鍍層測厚儀
    快速:1分鐘可測量樣品涂層厚度,滿足測量要求。
    方便性:部分型號的X射線熒光光譜儀采用了上較早進口的電制冷半導(dǎo)體探測器,能量分辨率優(yōu)于135eV,測試更高。此外,制冷和定期補充不需要液氮,操作和使用更加方便,運行成本低于其他同類產(chǎn)品。
    無損:測試前后,樣品沒有任何形式的變化。
    直觀:實時譜圖,可以直觀顯示元素內(nèi)容。
    測試范圍廣:X射線熒光光譜儀是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)?;瘜W性質(zhì)上屬于同一科的元素也可以分析,抽真空可以測試從Na到u。
    可靠性高:由于測試過程中沒有人為因素的干擾,儀器本身具有很高的分析性、重復(fù)性和穩(wěn)定性。因此,測量可靠性更高。
    滿足不同要求:測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,操作簡單,功能強大。軟件可以監(jiān)控儀器狀態(tài),設(shè)置儀器參數(shù),有很多的分析方法。工作曲線制作方法靈活多樣,方便滿足不同客戶、不同樣品的檢測需求。
    高:與化學分析儀器相比,X射線熒光光譜儀在整體使用成本上具有優(yōu)勢,可以被更多的企業(yè)和廠家所接受。
    簡單:對人員技術(shù)要求低,操作維護簡便。
    性能特征:
    滿足不同厚度和不規(guī)則表面樣品的測試要求。
    直徑為φ0.1mm的孔徑準直器可以滿足微小測試點的需要。
    高移動平臺可以定位測試點,重復(fù)定位小于0.005mm。
    高度定位激光可以自動定位測試高度。
    定位激光確定定位點,以確保測試點與點對齊。
    鼠標可以控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點。
    高分辨率探頭使分析結(jié)果更加準確。
    射線屏蔽效果好。
    測試端口高度靈敏度的傳感器保護。
    技術(shù)指標。
    類型:Thick800A。
    元素分析范圍從硫到鈾。
    同時可以分析30多種元素和5種涂料。
    分析含量一般為ppm至99.9%。
    涂層厚度一般小于50μm(每種材料不同)
    任意數(shù)量的可選分析和識別模型。
    獨立矩陣效應(yīng)校正模型。
    多變量非線性恢復(fù)程序
    適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
    電源:交流220V±5v,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
    外觀尺寸:576(w)×495(d)×545(h)mm。
    樣品室尺寸:500(w)×350(d)×140(h)mm。
    重量:90kg。
    標準配置。
    打開樣品室。
    精密二維移動樣品平臺、探測器、X射線管可上下移動,實現(xiàn)三維移動。
    雙激光定位裝置。
    鉛玻璃盾牌。
    光譜涂層測厚儀硅針探測器。
    信號檢測電子電路。
    高低壓電源。
    x射線管。
    高度傳感器。
    保護傳感器。
    電腦和噴墨打印機。
    應(yīng)用領(lǐng)域。
    金、鉑、銀等貴金屬及各種首飾的測定。
    金屬鍍層厚度的測量,電鍍液和鍍層含量的測定。
    光譜鍍層測厚儀原廠價格主要用于貴金屬加工和珠寶加工行業(yè);銀行、珠寶銷售和檢測機構(gòu);電鍍行業(yè)。
    測試用例。
    鍍鎳裝置是一種常見的電鍍裝置,其鍍鎳層不僅可以保護銅基體免受氧化,還可以起到美觀的作用。這里以客戶提供的鍍銅鍍鎳樣品為例,說明該儀器的測試效果。
    在下文中,使用Thick800A儀器在鍍銅-鎳樣品上實際測試了鎳層的厚度,獲得了七次標準偏差和相對標準偏差。并能對樣品進行定位測試,測試位置如圖所示。
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