儀器名稱：
透射電子顯微鏡（TEM-EDS）

透射電鏡型號：
Tecnai G2 F30/F20 JEOL-2100F FIB+球差校正電鏡

透射電鏡檢測項目：
形貌觀察（磁性、非磁樣品、生物樣均可） 選區(qū)電子衍射（環(huán)衍射、點衍射） 高分辨像（磁性、非磁樣品、生物樣均可） EDS能譜（點掃、線掃、面掃） 明場、暗場 Mapping 球差電鏡

透射電鏡應(yīng)用范圍：
可以對各種材料的物質(zhì)內(nèi)部微結(jié)構(gòu)進行觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術(shù)研究，材料粒徑統(tǒng)計，晶體結(jié)構(gòu)及晶體性能進行研究，配合能譜儀可以對各種元素進行定性、及半定量的微區(qū)分析，廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、生物、化學(xué)、環(huán)境、光電子等領(lǐng)域。

透射電鏡測試流程
1、客戶提出測試要求（在線預(yù)約）
2、細節(jié)溝通（溝通）
3、下載填寫測試委托單
4、測試委托單和樣品郵寄
5、聯(lián)系客服付款
6、安心等待
7、接受數(shù)據(jù)發(fā)票
8、后期服務(wù)
以上是對于透射電鏡測試的相關(guān)介紹，如有其它檢測需求可以咨詢實驗室工程師，為您一對一服務(wù)。