氟化鈣(CaF2)高精度窗口片
· 1.提供?1/2英寸和?1英寸版本
· 2.未鍍膜氟化鈣波長范圍:紫外到紅外(180 nm - 8 μm)
· 3.提供鍍有增透膜的版本,用于1.65 - 3.0 μm (Ravg < 1.0%)
QXKJ提供未鍍膜或者鍍寬帶增透膜的氟化鈣 (CaF2)高精度窗口片。未鍍膜窗口片在真空紫外(180 nm)到紅外(8.0 μm)區(qū)域具有高的透射率。鍍增透膜的窗口片兩邊鍍有增透膜,增強了在1.65 - 3.0 μm范圍上的透過率。由于其低吸收系數(shù)和高損傷閾值,未鍍膜氟化鈣晶體成為準分子激光器的常用選擇。氟化鈣窗口片同時也經(jīng)常用于低溫冷卻熱成像系統(tǒng)。
氟化鈣具有低吸收系數(shù)和高損傷閾值,使得這些窗口片是使用自由空間激光的較好選擇。光學氟化鈣提供低色散(阿貝數(shù)95)和低熒光性,以及*的防水、耐化學品和耐熱性。在干燥環(huán)境中,CaF2 可用于*1000 °C,但在存在濕氣的情況下,過600 °C時會發(fā)生降解。每個窗口片具有隨機取向的晶軸。
氟化鈣(CaF2)在紫外到紅外(180 nm - 8.0 μm)波長范圍是透明的。它在波長1.064 μm處折射率為1.428,機械和環(huán)境穩(wěn)定性高。氟化鈣非常適合要求低損傷閾值、低熒光和高均勻性的應用。它常用于準分子激光器和光譜儀和制冷熱成像中。
Calcium Fluoride Specifications
Index of Refraction at Nd:YAG (1.064 μm)a
1.428
Abbe Number (Vd)
95.31
Transmission Range
180 nm - 8.0 μm
Density
3.18 g/cm3
Knoop Hardness
158.3 kg/mm2
Young's Modulus
75.8 GPa
Shear Modulus
33.77 GPa
Bulk Modulus
82.71 GPa
Poisson's Ratio
0.26
Coefficient of Thermal Expansion
18.85 x 10-6 /°C
Heat Capacity
0.854 J/(g*K)
Melting Point
1418 °C
Change in Index of Refraction with Temperature (+20/+40°C @ 1060 nm)
-10.6 x 10-6 /°C
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氟化鈣(CaF2)高精度窗口片
· 1.提供?1/2英寸和?1英寸版本
· 2.未鍍膜氟化鈣波長范圍:紫外到紅外(180 nm - 8 μm)
· 3.提供鍍有增透膜的版本,用于1.65 - 3.0 μm (Ravg < 1.0%)
QXKJ提供未鍍膜或者鍍寬帶增透膜的氟化鈣 (CaF2)高精度窗口片。未鍍膜窗口片在真空紫外(180 nm)到紅外(8.0 μm)區(qū)域具有高的透射率。鍍增透膜的窗口片兩邊鍍有增透膜,增強了在1.65 - 3.0 μm范圍上的透過率。由于其低吸收系數(shù)和高損傷閾值,未鍍膜氟化鈣晶體成為準分子激光器的常用選擇。氟化鈣窗口片同時也經(jīng)常用于低溫冷卻熱成像系統(tǒng)。
氟化鈣具有低吸收系數(shù)和高損傷閾值,使得這些窗口片是使用自由空間激光的較好選擇。光學氟化鈣提供低色散(阿貝數(shù)95)和低熒光性,以及*的防水、耐化學品和耐熱性。在干燥環(huán)境中,CaF2 可用于*1000 °C,但在存在濕氣的情況下,過600 °C時會發(fā)生降解。每個窗口片具有隨機取向的晶軸。
氟化鈣(CaF2)在紫外到紅外(180 nm - 8.0 μm)波長范圍是透明的。它在波長1.064 μm處折射率為1.428,機械和環(huán)境穩(wěn)定性高。氟化鈣非常適合要求低損傷閾值、低熒光和高均勻性的應用。它常用于準分子激光器和光譜儀和制冷熱成像中。
Calcium Fluoride Specifications
Index of Refraction at Nd:YAG (1.064 μm)a
1.428
Abbe Number (Vd)
95.31
Transmission Range
180 nm - 8.0 μm
Density
3.18 g/cm3
Knoop Hardness
158.3 kg/mm2
Young's Modulus
75.8 GPa
Shear Modulus
33.77 GPa
Bulk Modulus
82.71 GPa
Poisson's Ratio
0.26
Coefficient of Thermal Expansion
18.85 x 10-6 /°C
Heat Capacity
0.854 J/(g*K)
Melting Point
1418 °C
Change in Index of Refraction with
Temperature (+20/+40°C @ 1060 nm)
-10.6 x 10-6 /°C