TD8210 是于檢測(cè)軟磁材料直流磁特性的裝置，由直流磁化電源及精密測(cè)量裝置、系統(tǒng)級(jí)軟件組成。該裝置可直接繞線測(cè)量軟磁環(huán)樣或其他閉磁路樣品的直流磁參量，并繪制相關(guān)的磁特性曲線，支持模擬沖擊法和掃描法二種方式。參照標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 13012-2008、SJ/T 1028191、IEC 60404-4、IEC 60404-7、及ASTM A341、A342 等。

主要應(yīng)用

     被測(cè)軟磁種類：鐵氧體、純鐵、硅鋼、鎳鐵 (坡莫合金) / 鈷鐵合金、非晶 / 納米晶合金等。

     被測(cè)樣品形狀：環(huán)形樣品、E 型 / U 型鐵芯等閉磁路樣品。

     主要測(cè)量方法：支持模擬沖擊法和掃描法二種測(cè)量方案。

     被測(cè)的磁參量：飽和磁通密度 Bs 、剩磁 Br 、矯頑力 Hc、起始磁導(dǎo)率 μi 、大磁導(dǎo)率 μm 等。

     繪制磁性曲線：基本磁化曲線、磁滯回線等

功能特點(diǎn)

     內(nèi)置一套的校準(zhǔn)程序，及校準(zhǔn)接線端鈕，可通過高等級(jí)的電流表、磁通校準(zhǔn)儀對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)。

     磁材的磁特性參數(shù)可溯源至電磁學(xué)基本量以保證測(cè)量數(shù)據(jù)的重復(fù)性、一致性、可比性和準(zhǔn)確度。

     標(biāo)準(zhǔn)樣品僅用于測(cè)量數(shù)據(jù)比對(duì)，不得用于對(duì)本裝置進(jìn)行校準(zhǔn)。

     裝置內(nèi)置的電子積分器取代傳統(tǒng)的沖擊檢流計(jì)，以消除非瞬時(shí)性誤差。

     裝置具有樣品自動(dòng)退磁功能；電子積分器零點(diǎn)漂移影響極小。

     軟件功能強(qiáng)大，可自動(dòng)保存數(shù)據(jù)，并可隨時(shí)查看所有測(cè)試參數(shù)、曲線/回線及結(jié)果。

     在掃描法測(cè)量時(shí)，因電流的動(dòng)態(tài)范圍十分寬廣 ( 如 1μA ～5 A )，傳統(tǒng)設(shè)計(jì)采用繼電器來(lái)切換量程以實(shí)現(xiàn)電流 (磁場(chǎng)強(qiáng)度H) 的準(zhǔn)確測(cè)量，在電流掃描過程中觸點(diǎn)抖動(dòng)會(huì)引起磁場(chǎng)瞬變，而對(duì)磁測(cè)數(shù)據(jù)帶來(lái)較大誤差及磁滯回線不光滑的缺陷。因此，我們對(duì)勵(lì)磁部分進(jìn)行而精巧的設(shè)計(jì)來(lái)克服這個(gè)缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了在不用繼電器來(lái)切換量程的情況下確保寬范圍的電流連續(xù)穩(wěn)定調(diào)節(jié)和電流量值的準(zhǔn)確測(cè)量，使掃描法與沖擊法的測(cè)量結(jié)果保持一致。

系統(tǒng)應(yīng)用框圖

典型磁參量測(cè)量的不確定度與重復(fù)性(模擬沖擊法測(cè)環(huán)樣)

     測(cè)量條件：試樣應(yīng)為薄壁環(huán)，外徑/內(nèi)徑 < 1.1；環(huán)境溫度：( 23 ± 5 )℃

勵(lì)磁與磁測(cè)量指標(biāo)

一般技術(shù)規(guī)格

     供電電源：AC ( 220 ± 22 ) V，( 50 ± 2 ) Hz

     工作環(huán)境： 0 ℃ ～40 ℃，20% ～85% R·H

     裝置尺寸：495 mm × 400 mm × 180 mm（長(zhǎng)×寬×高）

     裝置重量：約 15 kg

     通訊接口：RS232