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火花直讀光譜儀OES8000

價(jià)格

電議

型號(hào)

OES8000

品牌

所在地

暫無(wú)

更新時(shí)間

2022-04-20 08:25:29

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

OES8000是天瑞儀器研發(fā)的一款臺(tái)式火花直讀全譜合金分析儀,儀器應(yīng)用于鋼鐵、合金冶煉等行業(yè)

產(chǎn)品描述

產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置

性能優(yōu)勢(shì)

直讀光譜儀OES8000采用CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000是全面測(cè)試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器。
全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置
儀器體積小巧，對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過(guò)程少于40秒
儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員要求低
原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合號(hào)齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過(guò)程安全、環(huán)保

技術(shù)性能及參數(shù)

1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑350mm
波長(zhǎng)范圍140 – 800nm
像素分辨率10pm
恒溫34℃±0.5℃
特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600l/mm
一級(jí)光譜線色散率：1.2 nm/mm
3.檢測(cè)器
高性能線陣CCD
4.分析時(shí)間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺(tái)
4mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
無(wú)待機(jī)流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高450mm 長(zhǎng)750 mm 寬800 mm
85 kg
8.功率
大功率1500W
待機(jī)功率70W

工作條件

工作溫度：15-30℃
相對(duì)濕度：≤70%
電源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實(shí)驗(yàn)室無(wú)震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

輔助設(shè)備

高純氬氣——純度99.999%以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素
基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。
配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。
的測(cè)試方案
長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。
測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見(jiàn)測(cè)試需求。
分析程序由原廠采用國(guó)際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

核心部件

光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測(cè)器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲
光學(xué)鏡片——德國(guó)Zeiss制造，光纖——美國(guó)Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定。

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