4278A
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|電橋|LCR測試儀|惠普 :安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP Agilent 4278A詳細資料: 測量速度:6.5ms/10ms/21ms 測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器,用于生 產線和質量控制中作電容器的進出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電 容器的測試效率(可測量以200μF,這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值)。
技術指標: 測量參數(shù) C-D,Q,ESR,G 測試信號 頻率: 1kHz和1MHz±0.02% 信號電平: 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進 測量時間: 6.5ms/10ms/21ms(典型值) 測量范圍 測量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式 1MHz高精度 C 0.01pF~200.000μF 0.00001pF~1280.00pF 0.00004pF~2663.00pF D 0.00001~9.99999 0.00001pF~9.99999 0.00001pF~0.99999 電纜長度補償 0,1或2m 比較器: 對電容的10倉室分類,對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試 存儲卡插槽 外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用(存儲卡可任選,參見下面的選件
004)。
一般技術指標: 工作溫度/濕度 5°~45℃,在40℃時相對濕度為95% 電源
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4278A
Agilent 4278A|HP-4278A|HP4278A|電橋|LCR測試儀|惠普
:安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
Agilent 4278A詳細資料:
測量速度:6.5ms/10ms/21ms
測量參數(shù):C-D,Q,ESR,G
C-D測量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測試儀是一臺高速高可靠的精密測試儀器,用于生
產線和質量控制中作電容器的進出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電
容器的測試效率(可測量以200μF,這個電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值)。
技術指標:
測量參數(shù)
C-D,Q,ESR,G
測試信號
頻率:
1kHz和1MHz±0.02%
信號電平:
0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進
測量時間:
6.5ms/10ms/21ms(典型值)
測量范圍
測量參數(shù)
1kHz
1MHz正常模式
1MHz高精度
C
0.01pF~200.000μF
0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D
0.00001~9.99999
0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
電纜長度補償
0,1或2m
比較器:
對電容的10倉室分類,對D、Q、ESR和G的合格/不合格測試
存儲卡插槽
外部存儲器的存儲卡插槽用于對控制設置和比較極限進行分類和調用(存儲卡可任選,參見下面的選件
004)。
一般技術指標:
工作溫度/濕度
5°~45℃,在40℃時相對濕度為95%
電源