現(xiàn)代科學(xué)和材料工業(yè)的一大難題是如何實(shí)現(xiàn)在納米級(jí)別分辨率下對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)損的成分分析和鑒別。已有的一些高分辨成像技術(shù)，如電鏡或掃描探針顯微鏡等，在一定程度上可以解決該問(wèn)題，但是這些技術(shù)本身的識(shí)別能力太低，無(wú)法滿足樣品成分分析的要求；另一方面，紅外光譜具有很高的材料成分分析能力，但是其空間分辨率卻由于受到光的波長(zhǎng)衍射極限限制，只能達(dá)到um級(jí)別，因此也無(wú)法進(jìn)行納米級(jí)別的研究?，F(xiàn)在，瑞宇科技推出的納米紅外光譜成像顯微鏡，利用基于原子力顯微鏡的技術(shù)（AFM-IR），這一技術(shù)將原子力顯微鏡的高空間分辨率、納米級(jí)定位和成像功能與紅外光譜的高化學(xué)敏感度有機(jī)地結(jié)合到一臺(tái)設(shè)備中，很好的解決了這一難題。

    這款納米紅外光譜成像顯微鏡，是一款功能強(qiáng)大的材料表征分析工具，使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限，能夠達(dá)到10nm級(jí)別，從而在利用原子力顯微鏡（AFM）獲得微區(qū)形貌和表面物理特征的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步幫助用戶全面解析樣品表面納米級(jí)別的化學(xué)信息，開(kāi)創(chuàng)了納米紅外化學(xué)解析的新領(lǐng)域。由于這款納米紅外儀器具備的高空間分辨率的紅外光譜采集和化學(xué)成分成像，被*為近十來(lái)年光譜領(lǐng)域較大的技術(shù)進(jìn)步。

    瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡，在不借助任何數(shù)據(jù)矯正模型的前提下就能獲得樣品紅外光譜，該紅外光譜與使用傳統(tǒng)紅外光譜儀（傅立葉紅外光譜儀、色散紅外光譜儀）獲得的樣品紅外光譜及其分子特征峰高度吻合，沒(méi)有出現(xiàn)吸收峰的任何偏移。這就使得用戶可以將使用這款納米紅外產(chǎn)品獲得的數(shù)據(jù)，與使用傳統(tǒng)紅外光譜儀建立的商用紅外光譜庫(kù)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，從而實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的材料化學(xué)分析，這在科學(xué)研究和工業(yè)應(yīng)用中都具有重大意義。

    瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡，不是直接采集紅外光譜與樣品相互作用后的信號(hào)，而是通過(guò)原子力探針采集檢測(cè)區(qū)域吸收紅外激光后發(fā)生的熱形變，因此能夠?qū)⑿盘?hào)的采集范圍局限在探針針尖與樣品接觸的狹窄區(qū)域，因此它的空間分辨率僅受針尖大小影響，從而達(dá)到10nm級(jí)別的分析成像。

    普通的原子力紅外技術(shù)是以探針來(lái)檢測(cè)樣品表面在紅外激光作用下的機(jī)械位移振動(dòng)，但隨著樣品厚度的減小，這種位移量變得微乎其微，出了原子力顯微鏡的噪音極限。而瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡采用特別的可調(diào)頻激光共振增強(qiáng)技術(shù)，能把微弱信號(hào)放大100倍以上，從而將靈敏度提高到單分子層，達(dá)到很高的光譜檢測(cè)靈敏度，這種靈敏度，對(duì)于檢測(cè)分析薄樣品如薄膜材料、單分子生物樣品、石墨烯等是非常有用的。

    瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)紅外吸收成像功能，將紅外激光固定在用戶需要的波長(zhǎng)并用原子力探針掃描需要檢測(cè)的樣品表面，*終得到每個(gè)位置的紅外吸收強(qiáng)度，從而獲得該波長(zhǎng)下樣品區(qū)域的紅外吸收成像圖。

    舊有的原子力顯微鏡與光譜聯(lián)用技術(shù)的*問(wèn)題在于光路的改變：在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中需要保證聚焦在探針針尖位置，但在調(diào)頻過(guò)程中，激光角度會(huì)隨著波長(zhǎng)的變化而變化，從而改變焦點(diǎn)位置。瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡采用全自動(dòng)軟件控制和智能光路調(diào)整來(lái)優(yōu)化聚焦，避免了普通原子力紅外系統(tǒng)需要手動(dòng)調(diào)節(jié)的不變和低效，保證了信號(hào)的穩(wěn)定性。

    瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡是一款強(qiáng)大的可擴(kuò)展原子力集成多系統(tǒng)，除了上述的原子力顯微成像、采集紅外吸收光譜、紅外吸收成像等功能外，它還可以外接多個(gè)模塊擴(kuò)展，如納米熱分析、洛倫茨接觸共振力學(xué)分析、掃描熱力學(xué)分析、導(dǎo)電原子力分析等。用戶可選擇一次性集成，也可選擇有需要時(shí)加裝。

對(duì)半導(dǎo)體不同層的組分進(jìn)行納米紅外測(cè)量，識(shí)別其成分組成，這是常規(guī)紅外光譜顯微鏡不能實(shí)現(xiàn)的

          可以對(duì)薄薄膜進(jìn)行分析，這是對(duì)僅有20nm厚度的PMMA薄膜進(jìn)行測(cè)量

在碳纖維-環(huán)氧樹(shù)脂復(fù)合材料上進(jìn)行的納米紅外測(cè)量，顯示了復(fù)合材料界面上的化學(xué)組成變化

         納米紅外測(cè)量識(shí)別金屬盤(pán)上的有機(jī)物顆粒，該顆粒尺寸僅有100nmx200nmx28nm

礦物的表面形貌圖（通過(guò)原子力顯微鏡獲得）與紅外吸收光譜圖像對(duì)比，可以通過(guò)CH鍵的紅外吸收峰來(lái)確定烴的分布

調(diào)色劑顆粒是由多種化學(xué)成分組成的，納米紅外測(cè)量識(shí)別出了這些成分并在納米級(jí)別定位