北京Langer RF2近場(chǎng)探頭組 30Mhz-3Ghz 德國(guó)Langer RF2 直銷價(jià)格
Langer RF2 RF1 RF3 RF4近場(chǎng)探頭組 德國(guó)Langer RF2 價(jià)格 德國(guó)Langer代
LANGER EMV-Technik為德國(guó)近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對(duì)現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì),同時(shí)開(kāi)發(fā)出直徑2mm的近場(chǎng)探棒(Near Field Probe),再加上高感度及高辦識(shí)率;為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品,提供一個(gè)很好的解決工具。
修改測(cè)試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測(cè)試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測(cè)試方法,只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。
修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以,可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度,從而找出輻射大的零件或電路。
RF 2∶
* H-Field Probe RF-R 400 - 1
* H-Field Probe RF-R 50 - 1
* H-Field Probe RF-U 5 - 2
* E-Field Probe RF-B 3 - 2
* Cable SMB-BNC
* 175 x 140 x 32 mm
Langer RF2 RF1 RF3 RF4近場(chǎng)探頭組 德國(guó)Langer RF2 價(jià)格 德國(guó)Langer代
LANGER EMV-Technik為德國(guó)近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對(duì)現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì),同時(shí)開(kāi)發(fā)出直徑2mm的近場(chǎng)探棒(Near Field Probe),再加上高感度及高辦識(shí)率;為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品,提供一個(gè)很好的解決工具。
修改測(cè)試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測(cè)試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測(cè)試方法,只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。
修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以,可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度,從而找出輻射大的零件或電路。
RF 2∶
* H-Field Probe RF-R 400 - 1
* H-Field Probe RF-R 50 - 1
* H-Field Probe RF-U 5 - 2
* E-Field Probe RF-B 3 - 2
* Cable SMB-BNC
* 175 x 140 x 32 mm
Langer RF2 RF1 RF3 RF4近場(chǎng)探頭組 德國(guó)Langer RF2 價(jià)格 德國(guó)Langer代
LANGER EMV-Technik為德國(guó)近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對(duì)現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì),同時(shí)開(kāi)發(fā)出直徑2mm的近場(chǎng)探棒(Near Field Probe),再加上高感度及高辦識(shí)率;為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品,提供一個(gè)很好的解決工具。
修改測(cè)試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測(cè)試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測(cè)試方法,只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。
修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以,可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度,從而找出輻射大的零件或電路。
RF 2∶
* H-Field Probe RF-R 400 - 1
* H-Field Probe RF-R 50 - 1
* H-Field Probe RF-U 5 - 2
* E-Field Probe RF-B 3 - 2
* Cable SMB-BNC
* 175 x 140 x 32 mm
Langer RF2 RF1 RF3 RF4近場(chǎng)探頭組 德國(guó)Langer RF2 價(jià)格 德國(guó)Langer代
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修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以,可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度,從而找出輻射大的零件或電路。
RF 2∶
* H-Field Probe RF-R 400 - 1
* H-Field Probe RF-R 50 - 1
* H-Field Probe RF-U 5 - 2
* E-Field Probe RF-B 3 - 2
* Cable SMB-BNC
* 175 x 140 x 32 mm
Langer RF2 RF1 RF3 RF4近場(chǎng)探頭組 德國(guó)Langer RF2 價(jià)格 德國(guó)Langer代
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修改測(cè)試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測(cè)試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測(cè)試方法,只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。
修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以,可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度,從而找出輻射大的零件或電路。
RF 2∶
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* H-Field Probe RF-R 50 - 1
* H-Field Probe RF-U 5 - 2
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* Cable SMB-BNC
* 175 x 140 x 32 mm
Langer RF2 RF1 RF3 RF4近場(chǎng)探頭組 德國(guó)Langer RF2 價(jià)格 德國(guó)Langer代
LANGER EMV-Technik為德國(guó)近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)制造公司。它針對(duì)現(xiàn)代電子產(chǎn)品愈做愈精細(xì),同時(shí)開(kāi)發(fā)出直徑2mm的近場(chǎng)探棒(Near Field Probe),再加上高感度及高辦識(shí)率;為現(xiàn)在修改(Debug)產(chǎn)品,提供一個(gè)很好的解決工具。
修改測(cè)試可用於產(chǎn)品研發(fā)的任何階段。診斷測(cè)試是不需要遵守任何的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范的測(cè)試方法,只要能找出干擾源并了解干擾的頻率和能量即可。
修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以,可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度,從而找出輻射大的零件或電路。
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* H-Field Probe RF-U 5 - 2
* E-Field Probe RF-B 3 - 2
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修改診斷量測(cè)設(shè)備是由探棒、前置放大器和一臺(tái)頻譜分析儀即可。
所有的電磁干擾都可分為兩種分量∶一個(gè)是磁場(chǎng)分量、一個(gè)是電場(chǎng)分量。這兩個(gè)分量的方向相互垂直。電磁兼容修改一般是用近場(chǎng)探棒(Near Field Probe)進(jìn)行近場(chǎng)量測(cè)。所以,可用電場(chǎng)探棒和磁場(chǎng)探棒分別量測(cè)電場(chǎng)源和磁場(chǎng)源??筛鶕?jù)電磁波的傳播方向確定輻射源的位置和輻射強(qiáng)度,從而找出輻射大的零件或電路。
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* 175 x 140 x 32 mm
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