進(jìn)口x射線鍍層測(cè)厚儀進(jìn)口X熒光光譜儀

價(jià)格
電議

型號(hào)
EDX-J150

品牌
韓國(guó)

所在地
暫無(wú)

更新時(shí)間
2019-03-21 19:00:01

瀏覽次數(shù)

    1. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析 單鍍層應(yīng)用 [如:Cu/ABS等] 雙鍍層應(yīng)用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等] 三鍍層應(yīng)用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等] 四鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等] 合金鍍層應(yīng) [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等] 2. Multi-Ray. 快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊。可同時(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。 3.進(jìn)口x射線鍍層測(cè)厚儀、進(jìn)口X熒光光譜儀

    進(jìn)口x射線鍍層測(cè)厚儀、進(jìn)口X熒光光譜儀

    1)、硬件參數(shù):

    1. X射線管:高穩(wěn)定性X射線管,使用壽命(工作時(shí)間>20,000小時(shí))

    微焦點(diǎn)x射線管

    鈹窗口, 光斑尺寸75um,油絕緣,氣冷,輻射安全電子管屏蔽。

    50kV,1mA。高壓和管流設(shè)定為應(yīng)用程序提供佳性能。

    2. 探測(cè)器:SDD探測(cè)器

    能量分辨率:125±5eV

    3. 濾光片/可選

    初級(jí)濾光片:Al濾光片,自動(dòng)切換

    7個(gè)準(zhǔn)直器:0.1mm、 0.2mm、 0.4mm、0.5mm、1mm4mm(兩個(gè))(或者根據(jù)客戶具體檢測(cè)要求配置)

              

    4. 平臺(tái):軟件程序控制步進(jìn)式電機(jī)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z軸移動(dòng)大樣品平臺(tái)。
    激光定位、簡(jiǎn)易荷載大負(fù)載量為5公斤
    軟件控制程序進(jìn)行持續(xù)性自動(dòng)測(cè)

    5. 樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能

             

    6. 分析譜線:

    - 2048通道逐次近似計(jì)算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

    - 基點(diǎn)改正(基線本底校正)

    - 密度校正

    - Multi-Ray軟件包含元素ROI及測(cè)量讀數(shù)自動(dòng)顯示

    7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統(tǒng)

    - 觀察范圍:3mm x 3mm

    - 放大倍數(shù):40X

    - 射線方向:上照式

    - 軟件控制取得高真圖像

    進(jìn)口x射線鍍層測(cè)厚儀、進(jìn)口X熒光光譜儀

    1. Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)法(FP)軟件,對(duì)樣品進(jìn)行的鍍層厚度分析,可對(duì)鍍液進(jìn)行定量分析。

    2. MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

    勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

    吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

    線性模式進(jìn)行膜鍍層厚度測(cè)量

    相對(duì)(比)模式  無(wú)焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 

    多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量

    鍍層應(yīng)用 [Cu/ABS]

    鍍層應(yīng)用 [Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu]

    鍍層應(yīng)用 [Au/Ni-P/Cu/Brass]

    鍍層應(yīng)用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb]

    合金層應(yīng) [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS]

    3. Multi-Ray. 快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊。可同時(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運(yùn)算和配給。

    電鍍厚鍍度測(cè)量?jī)x、X-RAY

    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

    1. 鍍層檢測(cè),檢測(cè)層數(shù)范圍1-6;檢測(cè)鍍液的元素含量范圍為1ppm99.99%。

    2. 全自動(dòng)操作平臺(tái),平臺(tái)移動(dòng)范圍可達(dá)160*160*100mm(X*Y*Z);

    3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能;

    4. 檢測(cè)的樣品可以為固體、液體粉末;

    5. 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品,對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低;

    6. 可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描、無(wú)標(biāo)樣定性、半定量分析;

    7. 操作簡(jiǎn)單、無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩(wěn)定性,快速檢測(cè)(5-40秒依配置而定);

    8. 配置:SDD探測(cè)器、長(zhǎng)壽命X射線管、SPELLMAN高壓電源,儀器使用壽命長(zhǎng)。

    9. 高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高,檢測(cè)越,這是能譜儀一個(gè)非常關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo));

    10. 可針對(duì)客戶個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件;

    11. 軟件終身免費(fèi)升級(jí);

    12. 無(wú)損檢測(cè),一次性購(gòu)買標(biāo)樣可使用;

    13. 使用安心無(wú)憂,售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以內(nèi),提供全方位保姆式服務(wù);

    14. 環(huán)保RoHS分析功能,實(shí)現(xiàn)鍍層、環(huán)保和成份分析同時(shí)檢測(cè);

    15. 具有遠(yuǎn)程服務(wù)功能,在客戶請(qǐng)求的情況下,可遠(yuǎn)程進(jìn)行儀器維護(hù);

    RoHS規(guī)定的元素測(cè)試,待測(cè)物質(zhì)的SbAsSeBa元素,鹵素要求的ClBr元素,八大有害重金屬:鉛:Pb、汞:Hg、鎘:Cd、銻:Sb、硒:Se、砷:As、鋇:Ba、

     

    進(jìn)口x射線鍍層測(cè)厚儀、進(jìn)口X熒光光譜儀

     

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