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坐標測量機的儀器校準項目和方法有哪些？
  (一)環(huán)境條件
  首先坐標測量機的安裝地點應滿足測量的溫度、濕度和振動的條件，其允許極限值在校準時由用戶規(guī)定，在驗收檢測中由生產商規(guī)定。儀器校準或驗收檢測時，用戶可在允許環(huán)境條件極限內任意選擇環(huán)境條件。測量過程中應測量和記錄環(huán)境溫度的變化和溫度梯度的情況，測量點應不少于4點，分布在不同的方向和高度。

  (二)操作條件
  坐標測量機運行平穩(wěn)，無部件干涉引起的噪音。運行范圍達到要求。當開始進行校準或驗收檢測時，以下程序操作應采用制造商操作說明書中的規(guī)定：
    (1)坐標測量機啟動一預熱的時間；
    (2)探針系統(tǒng)的配置和組裝；
    (3)探針針頭和標準球的清潔程序；
    (4)探針系統(tǒng)的。
 (三)標準器的選取
    標準器應選擇直徑和形狀經校準的標準圓球，直徑在10mm～30mm之間。坐標測量機的標準球不應用作檢測球。
 (四)儀器校準項目和方法
  在掃描模式下使用的坐標測量機的儀器校準項目是：掃描探測誤差和掃描檢測時間。校準的原理是通過掃描檢測球上四個目標掃描平面確定檢測球的中心和半徑，掃描探測誤差按測得的中心和全部測定的掃描點問的半徑范圍計算，取*和*小測量結果之差的*值。掃描探測誤差瓦應小于*允許掃描探測誤差。通過監(jiān)控、記錄從*掃描順序起始中間點到第四掃描順序結束中間點之間的掃描檢測所經過的時間即掃描探測時間，掃描探測時問應小于*允許掃描檢測時間。具體步驟如下：
   安裝檢測球，檢測球應不同于探測系統(tǒng)用的標準球，且其安裝位置應與探針所用標準球的位置不同。檢測球應安裝牢固，以減小晃動引入的誤差。
    (2)探針在檢測球上掃描四條圓曲線，采集并記錄檢測球的修正掃描線上掃描點的測量結果。修正掃描線在檢測球表面所規(guī)定的四個目標掃描平面內。
    (3)按四條修正掃描線測得的全部掃描點計算出高斯擬合球的中心。計算測得的每個掃描點的徑向距離。由計算得到的徑向距離R的范圍算出掃描探測誤差。計算任一單個計算的徑向距離與檢測球直徑值的一半之差的**值即為掃描探測誤差。

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顯微鏡校準檢測光電積分式測色儀的儀器校正流程
1．光電積分式測色儀的儀器校正原理

    如前所述，由于CIE光譜三刺激值函數中的x(λ)具有兩個峰值波長，所以x(入)可以分為長波區(qū)域的x1(λ)和短波區(qū)域的xb(λ)，并且其xb(λ)與z(A)的形狀相似，它們之間存在一定的比例關系即Xb/Z=欠。閑此，光電積分式探測器的光譜匹配可以有兩種不同的方法：一種是自接將：個探測器的光譜響應匹配成x(λ)，丁(A)爾入)曲線，另一種是將三個探測器的光譜響應分別匹配成真，χ(λ)，y(λ)，z(λ)曲線，再利用比例系數K求得X刺激值即X=X1+Xb=X1+KZ。

    不同的光電探測器光譜匹配方式導致對應測色儀器的不同定標方法，下面具體討淪這兩種不同的色度校正過程：

   (1)測色儀器三個光電探測器的光譜響應分別匹配成x(λ)，y(λ)，z(λ)曲線

    如圖6-30所示，在光度導軌上把待校匯測色儀器的探測器對準已知X，Y，Z三刺激值的色源(如標準色板)，調節(jié)三個作為光電信號處理電路的電流—電壓變換器(運算放大器)反饋電阻的大小或其后繼放大器的放大倍數，即圖6-31中的R1，Rv，R12。等，使其顯示的讀數值與標準色源的三刺激值X，Y，Z—致，儀器即達到了儀器校正狀態(tài)；

 有些光電積分式色度計的探頭做成平面狀接收表面，那么其Y通道可以采用照度定標的方法進行儀器校正，如圖6-32所示。這時，可把Y通道作為照度計探測器，在光度導軌上利用發(fā)光強度標準燈對儀器進行校正，調節(jié)Y通道的校正電位器(改變放大器的放大倍數).

 2．應用舉例

    下面以彩色亮度計的色度校正，為例，說明光電積分式測色儀器的定標過程．

   (1)彩色亮度計的定標

    彩色亮度計以亮度作為定標單位，圖6-33是其采用CIE標準光源A(發(fā)光強度為I)進行校正的定標裝置示意圖。設儀器與氧化鎂(或硫酸鋇)白板的距離為r，則氧化鎂白板表面的照度為E=I/r2In。另外，已知氧化鎂白板在標準光源A照明時的反射比為p，由此便可以計算出在標準光源A照明下氧化鎂白板的三刺激值X1，r，Z。這里順便說明一下氧化鎂白板的反射比p的汁算方法，首先在分光光度計上測出氧化鎂白板與*計量部門提供的標準白板的光譜反射比之比值，從而獲得氧化鎂白板的光譜反射比p(λ)，然后應用色度學理論可以計算出氧化鎂白板在CIE標準光源A照明下的反射比p。

 (1)彩色亮度計的定標

    彩色亮度計以亮度作為定標單位，圖6-33是其采用CIE標準光源A(發(fā)光強度為I)進行儀器校正的定標裝置示意圖。設儀器與氧化鎂(或硫酸鋇)白板的距離為r，則氧化鎂白板表面的照度為E=I/r2。另外，已知氧化鎂白板在標準光源A照明時的反射比為p，由此便可以計算出在標準光源A照明下氧化鎂白板的三刺激值X1，r，Z。這里順便說明一下氧化鎂白板的反射比p的汁算方法，首先在分光光度計上測出氧化鎂白板與*計量部門提供的標準白板的光譜反射比之比值，從而獲得氧化鎂白板的光譜反射比p(λ)，然后應用色度學理論可以計算出氧化鎂白板在CIE標準光源A照明下的反射比p。

    當氧化鎂白板表面的照度為Z時，其表面的亮度為：L=PE/π

    儀器校正時，首先調節(jié)彩色亮度計的Y通道，使其顯示的讀數值等于L0一般，可以調節(jié)標準燈與標準白板之間的距離，使L=100cd／m2，以方便校正工作。然后，分別調節(jié)相應的X1和Z通道，使三刺激值X1，Y，Z符合上述計算出的標準光源A照明下氧化鎂白板的三刺激值X1，Y，Z之比值，即校正完成(fst200316hh)。

關于世通檢測：
世通儀器檢測校準中心（華南儀器校準中心）是經*認可委員會認可（認可號L3170）,國際實驗室互認組織(ILAC-MRA)授權,通過ISO17025國際計量準則的具有獨立*從事儀器校正.儀器校驗.儀器校準.儀器檢測.儀器計量.儀器外校.第三方機構和儀器銷售.CNAS及咨詢培訓的值得信賴的第三方公正實驗室.公司秉著“科學、公正、準確、高效”的理念和方針。目前公司的主營業(yè)務分布在珠三角地區(qū):東莞、深圳、惠州、廣州、中山、佛山、珠海、江門、河源、肇慶、清遠、汕頭、韶關、梅州等主要城市.本公司校準校驗實驗室可針對電子電器廠、鞋廠、五金廠、塑膠廠、紙箱廠、化工廠、玩具廠等各行業(yè)使用的儀器進行校準.本公司校準檢測中心設有:力學、長度、幾何量、衡器、電磁學及無線電室、熱工等*校準實驗室.本校準中心可對以上類別范圍的各國儀器進行校準并出具國際認可的的校準證書.校準/檢測報告具有性、可靠性、公正性.