用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。
渦流陣列技術 渦流陣列技術(ECA)以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈,并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。 OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應線圈(使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個)。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢 同單通道渦流技術相比,渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢:
檢測時間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性。
提供檢測區(qū)域實時圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。
很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
改進了檢測的可靠性和檢出率(POD)。
渦流陣列探頭 Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷,以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
傳感器之間的多路轉換技術。
渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設置具有更大的靈活性。
探頭可以做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應檢測部件的外形。
用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米(0.25英寸)的深度。
用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼。
用于表面裂痕檢測的*式探頭。
簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集,可快速有效地檢測缺陷。
分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
波幅、相位和位置測量。
可調彩色調色板。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應。
校準向導
分步進行。
一組中的所有通道可被同時校準,每個通道各有自己的增益和旋轉。
波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設定。
報警
3個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀(扇形、長方形、環(huán)形等)。
自動探頭識別和配置
探頭被連接后,C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設置。
頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
高級實時數(shù)據(jù)處理
實時數(shù)據(jù)插值可以改進缺陷的空間顯示。
使用兩個頻率,可生成一個MIX信號,以去除干擾信號(如:提離、緊固件信號等)。
數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例:在搭接處邊緣檢測出裂紋,因為該處厚度出現(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進檢測效果,特別是對小裂紋而言。
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OmniScan MX ECA
用于進行渦流陣列檢測。其檢測配置支持32個傳感器線圈(使用外置多路轉換器可支持64個線圈),其工作模式可為橋式或發(fā)送接收式。其工作頻率范圍為20Hz到6 MHz,帶有一個可以在同一采集操作過程中使用多頻的選項。
渦流陣列檢測
渦流陣列技術
渦流陣列技術(ECA)以電子方式驅動同一個探頭中多個相鄰的渦流感應線圈,并解讀來自這些感應線圈的信號。通過使用多路技術采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。
OmniScan® ECA檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個感應線圈(使用外部多路器可支持的感應線圈多達64個)。操作頻率范圍為20 Hz~6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。
渦流陣列的優(yōu)勢
同單通道渦流技術相比,渦流陣列技術具有下列優(yōu)勢:
檢測時間大幅度降低。
單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
減小了機械和自動掃查系統(tǒng)的復雜性。
提供檢測區(qū)域實時圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。
很好地適用于對那些具有復雜幾何形狀的部件的檢測。
改進了檢測的可靠性和檢出率(POD)。
渦流陣列探頭
Olympus NDT制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于廣泛的應用領域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,可以設計出不同的探頭。標準探頭可檢測如裂紋、點蝕等缺陷,以及多層結構中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。
傳感器之間的多路轉換技術。
渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設置具有更大的靈活性。
探頭可以做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應檢測部件的外形。
用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米(0.25英寸)的深度。
用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個可選編碼。
用于表面裂痕檢測的*式探頭。
渦流陣列軟件
簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示
C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集,可快速有效地檢測缺陷。
分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
波幅、相位和位置測量。
可調彩色調色板。
大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應。
校準向導
分步進行。
一組中的所有通道可被同時校準,每個通道各有自己的增益和旋轉。
波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設定。
報警
3個報警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
可以在阻抗圖中定義不同的報警區(qū)形狀(扇形、長方形、環(huán)形等)。
自動探頭識別和配置
探頭被連接后,C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設置。
頻率范圍保護可避免損壞探頭。
分析模式下的求差工具
該功能可去除在相鄰通道間的提離變化。
高級實時數(shù)據(jù)處理
實時數(shù)據(jù)插值可以改進缺陷的空間顯示。
使用兩個頻率,可生成一個MIX信號,以去除干擾信號(如:提離、緊固件信號等)。
數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個應用實例:在搭接處邊緣檢測出裂紋,因為該處厚度出現(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進檢測效果,特別是對小裂紋而言。