價格
電議
型號
HL-36NS
品牌
KEM
所在地
暫無
更新時間
2024-02-13 08:35:02
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京公網(wǎng)安備 11010802023672號
銷售日本KEM京都電子廢氣氯化氫濃度計HL-36NS
銷售日本KEM京都電子廢氣氯化氫濃度計HL-36NS
銷售日本KEM京都電子廢氣氯化氫濃度計HL-36NS
I大氣分析儀的主體
1；自動測量大氣中的氯化氫HL-48
一種通過離子電極法連續(xù)測量環(huán)境空氣中痕量氯化氫濃度的裝置，也可以連接到遙測儀上。
特點
雙離子方法可以測量0至50 ppb范圍內(nèi)的穩(wěn)定痕量濃度。
采用可吸入大量空氣的特殊檢測池，可實現(xiàn)連續(xù)測量，檢測靈敏度高。
由于進氣管包含加熱器，因此在引導(dǎo)管上沒有氯化氫的吸附。
測量目標
跟蹤大氣中的氯化氫
測量方法
雙離子電極法
測量范圍
0至50 ppb
測量周期
3個小時
測量精度
再現(xiàn)性：滿量程±2％或更低
零漂移：滿量程±3％/ 24H
量程漂移：滿量程±3％/ 24H
樣氣流量
20升/分鐘
2；大氣氟化合物自動測量儀HF-48
一種通過離子電極法連續(xù)測量環(huán)境空氣中痕量氟化氫等氣態(tài)無機氟化合物濃度的裝置，性能和結(jié)構(gòu)符合JIS B7958。
特點
可以通過雙離子電極方法進行0至5ppb范圍內(nèi)的穩(wěn)定離子濃度測量。
采用可吸入大量空氣的特殊檢測池，連續(xù)測量，檢測靈敏度高。
由于空氣引入管包含加熱器，所以在引導(dǎo)管上沒有氟化合物的吸附。
測量目標
氣態(tài)無機氟化合物，如大氣中的痕量氟化氫
測量方法
雙離子電極法
測量范圍
0-5 ppb
測量周期
3個小時
再生性
滿量程的±2％以內(nèi)
測量精度
再現(xiàn)性：滿量程±2％或更低
零漂移：滿量程±3％/ 24H
量程漂移：滿量程±3％/ 24H
樣氣流量
20升/分鐘
J廢棄分析儀的主體
1；廢氣氯化氫濃度計HL-36NS
“信任和成就”
這是一個固定式氣體分析儀，可連續(xù)測量從焚燒設(shè)施排出的氣體中的HCl和O 2。
在垃圾焚燒，污泥焚燒，廢液焚燒，工業(yè)廢物焚燒等各種條件下，腐蝕，粉塵，干擾氣體等問題
通過多年積累的技術(shù)得到了解決。
新功能
減少試劑的消耗
功耗低
配備零件更換通知功能
特點
氯離子電極采用電拋光（1次/天）方式，無需機械操作，可長時間穩(wěn)定測量。
通過在探頭中安裝灰塵分析儀（選件）可以顯示灰塵量（也可以進行外部輸出）。
測量目標
廢氣中的HCl和O 2（可選）
測量方法
離子電極連續(xù)分析方法
測量范圍
鹽酸
：
一個范圍為0至50/100/200/250/500/1000 ppm
O 2
：
0至25 vol％（可選）
響應(yīng)時間
瞬時值
：
4分鐘內(nèi)響應(yīng)率為90％
測量精度
再生性
：
滿量程的±2％以內(nèi)
零漂移
：
在滿量程/周的±1％范圍內(nèi)
跨度漂移
：
在滿量程/周的±3％范圍內(nèi)
樣氣流量
240毫升/分鐘
2；除塵器/灰塵監(jiān)視器KD-37C，HD-37 / KD-37
它是一種連續(xù)測量廢氣中粉塵濃度的裝置。
該測量方法
采用摩擦帶電型，利用灰塵與檢測單元碰撞時產(chǎn)生的電荷的運動。
型號名稱
KD-37C
除塵器
HD-37
氯化氫濃度計探頭
集成了除塵器
KD-37
灰塵監(jiān)視器
測量原理
摩擦帶電法
測量目標
廢氣中的灰塵
測量范圍
0至500 mg / m 3 N
（可切換至8級）
0.1至1000 mg / m 3 N當量
（可切換至9級）
測量條件
廢氣條件
溫度220°C或更低壓力200 kPa或更低
濕度40 vol％或更低流速4 m / s或更高
溫度220℃以下壓力200kPa以下
濕度40體積％以下流速為4m / s以上
粉塵狀態(tài)
尺寸0.3μm以上
濃度0.1~500mg / m 3 N.
尺寸0.3μm或更大
濃度0.1至1000mg / m 3 N.
測量信號輸出
1輸出項原始值，瞬時值，氧轉(zhuǎn)換值，轉(zhuǎn)換平均值中選擇3項
信號類型2 4至20 mA負載電阻大500Ω隔離輸出
3輸出方式3連續(xù)輸出
4通道
1輸出項目測量值
2信號類型DC 4至20 mA負載電阻大500Ω隔離輸出
3輸出方法連續(xù)輸出
數(shù)量4輸出1通道
測量信號輸入
1輸入項目氧氣信號
2信號類型DC 4至20 mA輸入
3輸入編號1通道
------------------------------
接觸信號輸出
1輸出項目故障/斷電/維護期間，濃度上限
2信號類型無電壓觸點輸出
3 輸出數(shù)量1C×3觸點容量AC100V 0.1A
1輸出項目故障，濃度上限1，濃度上限2
2信號類型無電壓觸點輸出
3輸出1 C×3觸點容量AC 250 V 5 A
接觸信號輸入
1輸入項目Plant IN，bug string marker
2輸入形式輸入沒有電壓接觸
3；激光氣體分析儀KLA-1
KEM激光氣體分析儀KLA-1是一種使用半導(dǎo)體激光器作為光源的連續(xù)氣體分析儀。測量原理在氣體分子的近紅外區(qū)域采用單光譜吸收光譜。該方法原則上具有選擇性高，靈敏度高，穩(wěn)定性好的特點。此外，通過采用不需要采樣裝置的樣品非抽吸方法（直接插入方法），可以在常溫難以測量的高溫，高壓和高腐蝕性氣體的條件下連續(xù)測量氣體。是一種適用于過程控制的短裝置。
激光氣體分析儀
KEM激光氣體分析儀KLA-1是一種使用半導(dǎo)體激光器作為光源的連續(xù)氣體分析儀。測量原理在氣體分子的近紅外區(qū)域采用單光譜吸收光譜。該方法原則上具有選擇性高，靈敏度高，穩(wěn)定性好的特點。此外，通過采用不需要采樣裝置的樣品非抽吸方法（直接插入方法），可以在常溫難以測量的高溫，高壓和高腐蝕性氣體的條件下連續(xù)測量氣體。是一種適用于過程控制的短裝置。
垃圾焚燒設(shè)施的一個例子
特點
采用單吸收線光譜法，選擇性良好。
我們選擇不與共存氣體重疊的吸收線，采用單吸收線吸收光譜，因此幾乎沒有干擾效應(yīng)。
采用光譜調(diào)制，無漂移，不受灰塵和窗戶污垢的影響。
沒有漂移，因為測量氣體的無吸收部分的透射率和使用半導(dǎo)體激光器的波長可調(diào)性的吸收峰值是發(fā)生變化，所以沒有漂移，灰塵和窗戶污垢不受影響
不受溫度和壓力的影響。
當樣氣的溫度和壓力發(fā)生變化時，一種特殊的算法通過輸入來自外部的溫度和壓力信號自動校正光譜的擴散誤差。
采用
直接插入方法由于采用直接插入方法，響應(yīng)時間短，可以在不改變樣氣狀態(tài)的情況下進行測量，因此可以地測量難以用常規(guī)方法測量的氣體。
它易于操作，沒有消耗品。
沒有活動部件，因此不需要更換耗材。維護只是每三個月清潔一次光學(xué)部件，每六個月進行一次氣體校準。
測量組件和測量范圍
測量組件
測量范圍
小范圍
大范圍
HCL
0至50 ppm
0至2000 ppm
O 2
0至1 vol％
0至25 vol％
※本儀器一個單元有一個測量元件。
※上述測量范圍是光程長度為1m，壓力為101.3kPa，溫度為25℃時的值。
※可用的測量范圍取決于光程長度和樣氣條件（氣體成分，溫度，壓力等）。
有些情況下可以應(yīng)對上述范圍以外的范圍，因此請聯(lián)系我們獲取測量范圍。