價(jià)格
￥5,555.00
型號(hào)
AXIS NOVA
品牌
生產(chǎn)商
所在地
北京市 海淀區(qū)
更新時(shí)間
2021-10-16 18:31:01
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京公網(wǎng)安備 11010802023672號(hào)
開拓了激光顯微鏡的界限。
－是值得信賴的影像和測(cè)量－
OLS4100 3D測(cè)量激光顯微鏡的優(yōu)勢(shì)
非接觸式、無(wú)損、快速成像和測(cè)量
○ 非接觸式、無(wú)損測(cè)量
激光掃描顯微鏡（LSM）采用低功率激光，不接觸樣品。因此，不像基于探針系統(tǒng)的接觸式表面粗糙度測(cè)量?jī)x那樣存在損壞樣品的風(fēng)險(xiǎn)。
○ 無(wú)需前期準(zhǔn)備即可成像
掃描電子顯微鏡（SEM）在觀察之前需要進(jìn)行前期的樣品準(zhǔn)備，如真空脫水和/或切片處理，使之適合樣品室。而LSM則無(wú)需前期的樣品準(zhǔn)備即可對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)量。而且，將樣品放置在載物臺(tái)上之后，即可直接開始成像。
的XY測(cè)量
○ 在XY平面測(cè)量亞微米級(jí)的距離
干涉儀是基于普通白光的光學(xué)顯微鏡，它的平面分辨率不高。而LSM通過(guò)采用更大數(shù)值孔徑的物鏡和更小波長(zhǎng)的光波，極大地提高了平面分辨率。并且通過(guò)高精度的激光控制技術(shù)，獲得更為的樣品表面形貌。根據(jù)拍攝到的圖像，LSM可以進(jìn)行非常的XY平面亞微米測(cè)量。LEXT OLS4100達(dá)到了0.12μm的平面分辨率。
的Z軸測(cè)量
○ 在Z方向上測(cè)量亞微米級(jí)的高度
SEM可以拍攝到高分辨率的影像，但是無(wú)法得到高度信息。LSM采用短波長(zhǎng)半導(dǎo)體激光和獨(dú)有的雙共焦光學(xué)系統(tǒng)，會(huì)刪除未聚焦區(qū)域的信號(hào)，只將聚焦范圍內(nèi)的反射光檢測(cè)為同一高度。同時(shí)結(jié)合高精度的光柵讀取能力，可以生成高畫質(zhì)的影像，實(shí)現(xiàn)的3D測(cè)量。LEXT OLS4100達(dá)到了10nm的高度分辨率。